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골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트

제품 상세정보

원래 장소: 둥구안

브랜드 이름: MENTO

인증: FCC.ROHS,CCC

모델 번호: ST-2000L

지불과 운송 용어

최소 주문 수량: 2

포장 세부 사항: 1500mm*1600mm*2000mm

배달 시간: 20일

지불 조건: L/C, T/T

공급 능력: 10pcs + 20 일

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제품 상세정보
강조하다:

칩 테스트 AOI 테스터

,

골드 와이어 테스트 AOI 테스트

,

센서 테스트 AOI 테스트

검사 정확성:
높은 정확도
정밀검사 속도:
고속
운용 정합:
사용하기 쉽습니다
결의:
고해상도
결함 분류:
자동
점검 범위:
광폭
결함 탐지:
높은 정밀도
결함 유형:
다양한 종류
검사 방법:
광학적입니다
적용:
반도체 첨단 포장재
검사 능력:
다층
시스템 통합:
완전 통합
종류:
자동 광학 검사 장비
소프트웨어:
고급 검사 소프트웨어
검사 정확성:
높은 정확도
정밀검사 속도:
고속
운용 정합:
사용하기 쉽습니다
결의:
고해상도
결함 분류:
자동
점검 범위:
광폭
결함 탐지:
높은 정밀도
결함 유형:
다양한 종류
검사 방법:
광학적입니다
적용:
반도체 첨단 포장재
검사 능력:
다층
시스템 통합:
완전 통합
종류:
자동 광학 검사 장비
소프트웨어:
고급 검사 소프트웨어
제품 설명

시험 프로그램

 

골드 와이어 검사:

금공 크기, 용매 관절 오프셋, 특기 공 골프, 용매 관절 비 붙는, 용매 관절 교량, 미흡한 공 플랜팅, 용매 관절 접착, 용매 관절 외국 물체, 알루미늄의 손실,겹치는 용접 결합, 손상된 보호 코팅, 찢어진 솔더 관절, 금 손가락에서 금의 손실, 큰 평면 공, soldered←

유선, 잘못된 유선을 용접하고, 유선이 없어지고, 유선이 부러지고,

철자 밟기, 철자 교량, 금 철자 잔류, 용접 철자

얽힌, 덤핑 와이어;

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 0

칩 검사

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 1

웨이퍼 칩 검사

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 2
웨이퍼 칩 검사

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 3
반도체 패키지 시험 장비

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 4

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 5

듀얼 트랙 설계 방법 (보기와 표시는 모두 듀얼 트랙 단일 머리가)

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 6

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 7

 

초고정밀의 전체 판 이미지 기술

전체 판 무선 스플라이싱 기술을 기반으로 오프셋 및 각 코 변동과 같은 고정도의 정량 값 측정법을 실현합니다.

 

μ 레벨 측정 제어 기능

포지셔널 정밀도를 <1m를 보장하기 위한 닫힌 루프 제어 시스템

전자 IO 제어

장수, 안정적이고 소음 없는 LED 조명 상태 표시

 

 

시력 시스템

산업용 카메라

고속 멀티 프레임 산업용 디지털 카메라가 사용됩니다.

 

원격 광학 시스템

높은 필드 깊이, 낮은 왜곡, 풀 픽셀, 고정 해상도 디자인

 

일정한 전류 광원 제어기

광원 밝기의 안정성과 균일성을 보장하기 위한 완전 폐쇄회로 일정한 전류 디지털 컨트롤러

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 8

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 9

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 10

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 11

 

프로세스 제어 SPC

1CPK의 통계, 평균 값, 극한 편차, 표준 편차, 제품의 큰 값, 작은 값.

2제어 규칙의 손실의 사용자 정의 제어 차트, 그리고 경보 요청.

3- 통제 이상 지점의 원인과 처리 조치를 기록, 데이터베이스에 저장.

 

골드 와이어 테스트, 칩 테스트, 센서 테스트, 듀얼 가이즈 디자인 접근 방식에 대한 AOI 테스트 12

 

기술 매개 변수

 

장치 모델 ST-2000L
탐지 능력 탐지 항목 용접 관절 오프셋, 끈질기지 않는 용접 관절, 브리딩, 놓친 공 배치, 외물, 알루미늄 손실, 중복된 용접 관절, 손상된 보호층, 놓친 용접 가이어, 잘못된 가이어,부러진 선, 흔들리는 와이어, 던진 와이어, 등
탐지 요소 00.7밀리
검출 방법 알고리즘 매개 변수 조정, 기계 학습
광학 시스템 카메라 U3, 픽셀:4504*4504 ((200만)
망원경 렌즈 고해상도 듀얼 사이드 텔레센트릭 광학
결의
수직선 21*14mm
빛의 근원 동축 적색 빛 + 높은 각의 파란색 빛 + 낮은 각의 파란색 빛
효율성 0.23S/FOV
컴퓨터 구성 호스트 CPU:Intelli7, 메모리:DDR4-64G, GPU:GTX1060-6G, SSD:SSD-120G, 기계적 HDD:2T
모니터 CPU:Intelli7, 메모리:DDR4-64G, GPU:GTX1060-6G, SSD:SSD-120G, 기계적 HDD:2T
운영체제 윈도우10-64 프로페셔널 에디션

탐지

성능

PCB 두께 00.3-5mm
부품 높이 상단 30mm, 하단 80mm (특정 높이를 사용자 정의 할 수 있습니다)
운전장비 세르보 모터 + 볼 스크루 + 선형 가이드
이동 속도 최대: 600mm/초
장착장치 높이 950±50mm (지구에서 고정장면까지)
매개 변수 크기 최대:L300*W100mm ((일차 트랙, 트랙 너비 조절)
AC220V/50Hz/2000W
전체 크기

L:1400mm W:1450mm H:1650mm

(경보등 없이)

전송 방법 자기 휠 구조
무게 ≈1800kg
전류 및 하류 장비 통신 표준 SMEMA 인터페이스 / 고체 결정 기계 데이터 통신
유지보수 서비스 보증: 1 년, 소프트웨어 업그레이드 무료
 

 

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